电子系统小子样试验理论方法

副标题:无

作   者:王国玉等著

分类号:

ISBN:9787118030921

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简介

  本书介绍了bayes小子样方法的理论及其在电子系统试验中的应用,主要包括:概率论和数理统计的基本理论及与电子系统试验密切相关的概率分布及其特性;电子系统试验中现用的数据处理方法及其存在的弊端;bayes理论的基本内容及其在国防科技领域的典型应用;bayes统计推断的理论,正态分布总体和二项分布总体未知参数的bayes估计和假设检验及其相对于传统方法的先进性;spot(序贯验后加权检验)方法的基本理论,电子系统试验中的正态总体和二项总体未知参数的spot方法;以雷达探测距离和发现概率为例,详述历史数据的获取及整理、验前分布函数的获得、试验结果的bayes估计和检验,探测距离和发现概率指标的spot检验等。.    本书内容新颖,系统性强,理论联系实际,基本反映了近年来电子系统试验技术研究领域的新理论、新方法和新成果,具有较高的学术水平和应用价值。本书可作为从事电子系统或电子对抗系统数据处理、试验评估、试验设计以及统计决策领域科技人员的参考书,也可供高等院校本科生和研究生进行相关课题研究或课程学习时参考。...

目录

目录
第1章 概率及概率分布
1.1 基本概念
1.1.1 事件及事件的运算
1.1.2 事件的概率及其基本运算
1.2 随机变量及概率分布
1.2.1 离散型随机变量的概率分布
1.2.2 连续型随机变量的概率分布
1.2.3 多维随机变量及概率分布
1.2.4 随机变量的数字特征
1.2.5 随机变量函数的概率分布
1.3 数理统计基础
1.3.1 总体与样本
1.3.2 抽样分布
1.3.3 参数估计
1.3.4 假设检验
第2章 电子系统试验中传统的数据处理方法
2.1 参数估计
2.1.1 点估计
2.1.2 区间估计
2.2 假设检验
2.2.1 数学期望的假设检验
2.2.2 标准差的假设检验
2.3 试验中子样大小的确定
2.3.1 参数估计问题中子样大小的确定
2.3.2 假设检验问题中子样大小的确定
2.4 经典统计方法的缺陷及误用
2.4.1 经典统计推断所需子样数大
2.4.2 经典统计推断过程的误用和不足
2.4.3 经典统计推断对试验结果的解释不合理
2.4.4 经典统计方法与似然原理存在矛盾
2.4.5 经典统计方法中构造统计量困难
2.5 传统方法的评价
2.5.1 传统方法的优点
2.5.2 传统方法的不足之处
第3章 Bayes方法基本原理
3.1 统计推断中所应用的信息
3.1.1 总体信息
3.1.2 样本信息
3.1.3 验前信息
3.2 Bayes方法的产生及其基本观点
3.2.1 Bayes方法的起源
3.2.2 Bayes方法的基本观点
3.2.3 Bayes公式
3.3 验前分布的计算方法
3.3.1 验前信息的获取
3.3.2 无信息可利用时的验前分布
3.3.3 运用历史数据确定验前分布
3.3.4 运用自助法和随机加权法确定验前分布
3.4 验后分布的计算方法
3.4.1 直接计算验后分布
3.4.2 应用充分统计量计算验后分布
3.5 共轭分布
3.5.1 常用的共轭分布
3.5.2 超参数及其确定
3.5.3 多参数模型的处理
3.6 Bayes方法的典型应用
3.7 Bayes方法的评价
3.7.1 Bayes方法的优点
3.7.2 对Bayes方法的批评
第4章 Bayes统计推断
4.1 Bayes统计推断的基本理论
4.1.1 Bayes点估计
4.1.2 区间估计
4.1.3 假设检验
4.2 正态总体未知参数μ(〓已知)的Bayes估计
4.2.1 μ(〓已知)的Bayes点估计
4.2.2 μ(〓已知)的区间估计
4.2.3 μ(〓已知)的假设检验
4.3 正态总体未知参数〓(μ已知)的Bayes估计
4.3.1 〓(μ已知)的Bayes点估计
4.3.2 〓(μ已知)的区间估计
4.3.3 〓(μ已知)的假设检验
4.4 正态总体未知参数μ、〓的Bayes估计
4.4.1 μ、〓的Bayes点估计
4.4.2 区间估计
4.4.3 假设检验
4.5 二项分布总体未知参数p的Bayes估计
4.5.1 p的Bayes点估计
4.5.2 p的Bayes区间估计
4.5.3 p的假设检验
第5章 序贯验后加权检验与小子样试验方法
5.1 序贯验后加权检验方法
5.1.1 决策区的划分——A,B的一般近似表达
5.1.2 截尾SPOT方案
5.2 正态总体分布均值(方差已知)的验后加权检验
5.2.1 正态总体分布均值的SPOT方法
5.2.2 正态总体分布均值的截尾SPOT方案
5.3 正态总体分布方差(均值已知)的验后加权检验
5.3.1 正态总体分布方差〓的SPOT方案
5.3.2 正态总体分布方差〓的截尾SPOT方案
5.4 正态总体分布(μ,〓)联合分布的验后加权检验
5.4.1 均值的序贯验后加权检验方法
5.4.2 方差的序贯验后加权检验方法
5.4.3 N与C的计算方法
5.5 二项分布总体未知参数p的验后加权检验
5.5.1 二项分布未知参数p的SPOT方法
5.5.2 二项分布未知参数p的截尾SPOT方法
5.5.3 〓和N、C的求解
第6章 电子系统小子样试验方法应用及分析
6.1 替代等效推算模型
6.1.1 雷达方程及雷达探测距离的替代等效推算模型
6.1.2 干扰方程及雷达烧穿距离的替代等效推算模型
6.2 正态总体中均值的统计检验及分析
6.2.1 验前分布的计算
6.2.2 Bayes小子样估计及结果分析
6.2.3 Bayes小子样假设检验及结果分析
6.2.4 截尾SPOT方案的子样数及决策阈值的确定
6.2.5 正态总体分布均值的SPOT结果分析
6.3 正态总体中方差的统计检验及分析
6.3.1 验前分布的计算
6.3.2 Bayes小子样估计及结果分析
6.3.3 Bayes小子样假设检验及结果分析
6.3.4 截尾SPOT方案的子样数及决策阈值的确定
6.3.5 正态总体方差参数的SPOT结果分析
6.4 正态总体中均值和方差的联合统计检验及分析
6.4.1 验前分布的计算
6.4.2 Bayes小子样估计及结果分析
6.4.3 Bayes小子样假设检验及结果分析
6.4.4 截尾SPOT方案的子样数及决策阈值的确定
6.4.5 正态总体未知参数的SPOT结果分析
6.5 二项总体中p参数的统计检验及分析
6.5.1 验前分布的计算
6.5.2 Bayes小子样估计及结果分析
6.5.3 Bayes小子样假设检验及结果分析
6.5.4 截尾SPOT方案的子样数及决策阈值的确定
6.5.5 二项总体未知参数的SPOT结果分析
后记
附表
附表1 标准正态分布函数值表
附表2 常用的标准正态分布下分位数〓值表
附表3 t分布的分位数〓(n)值表
附表4 〓分布的分位数〓(n)值表
附表5 F分布的分位数〓(m,n)值表
附表6 贝塔分布的上1/4分位数值表
附表7 贝塔分布的下1/4分位数值表
参考文献
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