X射线衍射理论与实践（Ⅱ）（黄继武）

第1章 宏观内应力的测量 1

1.1　内应力　 　1

1.2　基本原理　 　3

1.3　测试技术　 　6

1.4　实验方法　 　9

1.5　应用　 　12

1.5.1　测量铝合金抛丸处理后表面的残余应力　 　12

1.5.2　轴承钢沿深度方向的残余应力分布　 　16

1.6　讨论与实践　 　17



第2章 织构的测定与分析 19

2.1　织构及其分类　 　19

2.2　织构材料的衍射几何特征　 　21

2.3　织构的表示方法　 　22

2.4　直接极图　 　23

2.4.1　极图的定义　 　23

2.4.2　极图的测绘　 　26

2.4.3　组合试样法测绘完整极图　 　30

2.4.4　极图分析　 　31

2.5　反极图　 　32

2.5.1　反极图的生成　 　32

2.5.2　反极图的测绘方法　 　33

2.5.3　反极图的分析方法　 　36

2.6　取向分布函数　 　37

2.6.1　取向分布函数的计算　 　37

2.6.2　取向分布函数的分析　 　40

2.7　织构测量的应用　 　43

2.8　讨论与实践　 　53



第3章 Rietveld全谱拟合方法 54

3.1　Rietveld结构精修原理　 　54

3.1.1　X射线衍射谱的组成　 　54

3.1.2　Rietveld方法的基本原理　 　55

3.2　计算谱的构成　 　57

3.2.1　晶体结构　 　57

3.2.2　其他参数　 　58

3.2.3　计算谱的合成　 　61

3.3　Rietveld精修顺序　 　61

3.3.1　精修参数的分类　 　61

3.3.2　精修参数的选择　 　62

3.3.3　参数放开的顺序　 　62

3.4　精修指标　 　63

3.4.1　精修指标　 　63

3.4.2　残差图示　 　64

3.4.3　精修过程中可能出现的问题　 　65

3.5　精修的应用　 　67

3.6　Rietveld精修软件　 　70

3.7　讨论与实践　 　71



第4章 Rietveld精修实战（Jade） 72

4.1　Jade全谱拟合功能特色　 　72

4.2　精修流程　 　73

4.3　物相的读入　 　78

4.4　精修参数设置　 　80

4.5　全局变量精修　 　82

4.6　物相参数精修　 　84

4.7　晶体结构精修　 　87

4.8　精修显示与结果输出　 　88

4.9　Rietveld精修的应用　 　90

4.9.1　定量分析　 　90

4.9.2　晶胞参数精修　 　101

4.9.3　微结构与织构精修　 　104

4.9.4　晶体结构精修　 　109

4.9.5　Rietveld在物相检索中的应用　 　114

4.10　讨论与实践　 　117



第5章 Rietveld精修实战（Maud） 118

5.1　Maud的功能与安装　 　118

5.2　基本操作界面　 　120

5.3　简单精修　 　126

5.4　含非晶相的定量分析方法　 　137

5.5　仪器参数设置　 　143

5.6　含织构样品的定量分析　 　148



第6章 非晶态物质结构的X射线衍射分析 153

6.1　非晶态物质结构的主要特征　 　153

6.2　非晶态结构的径向分布函数　 　154

6.2.1　单一品种原子的径向分布函数　 　154

6.2.2　多元非晶态结构的径向分布函数　 　156

6.3　实验与数据处理　 　158

6.3.1　衍射强度分布IM (2θ)的测量　 　158

6.3.2　数据处理　 　158

6.4　应用　 　160



练习参考答案 165



附录 175

附录1　点群、空间群和劳厄群的符号和关系　 　175

附录2　应力测定常数　 　181



参考文献 183