干涉测试技术

第一章 干涉测试基础
§1．1 干涉与干涉术
1．1．1 干涉发展简史
1．1．2 干涉测试技术的应用
§1．2 基本关系式
1．2．1 光波的一般表达式
1，2．2 光波的位相
1．2．3 光波的空间频率
1．2．4 光波对辐射探测器的作用
1．2．5 光波的复数表示
1．2．6 波场的叠加
§1．3 干涉条纹的特性
1．3．1 干涉条纹的强度分布
1．3．2 干涉条纹的方向和频率
1．3．3 干涉条纹的对比度
1．3．4 干涉条纹的定域
§1．4 不同频率的单色平面波的干涉
1．4．1 干涉条纹的强度分布
1．4．2 干涉条纹的方向和频率
1．4．3 干涉条纹的传播速度
§1．5 球面波的干涉
1．5．1 两发散球面波的干涉
1．5．2 发散球面波与会聚球面波的干涉
1．5．3 球面波干涉条纹的对比度
§1．6 光源的相干性
1．6．1 时间相干性
1．6．2 空间相干性
§1．7 对干涉仪元件的一般要求
本章参考文献
第二章 单频干涉术
§2．1 干涉仪及其分类
2．1．1 分波前双光束干涉仪
2．1．2 分振幅双光束干涉仪
§2．2 波前形状的研究
2．2．1 泰曼-格林干涉仪
2．2．2 斐索干涉仪
2．2．3 复杂表面形状的检验
§2．3 米基准的测定
2．3．1 米基准测定的原理
2．3．2 零程差位置的确定
§2．4 长度测量
2．4．1 绝对测量法
2．4．2 相对测量法
§2．5 位移测量
2．5．1 小位移测量
2．5．2 大位移测量
§2．6 电视微机系统在干涉测长中的应用
§2．7 电视微机系统波面位相自动探测技术
2．7．1 三个干涉图法
2．7．2 一个干涉图法
2．7．3 条纹扫描法
§2．8 平行平板的楔度测量
2．8．1 等厚干涉法
2．8．2 等倾干涉法
本章参考文献
第三章 双频干涉术
§3．1 双频干涉术
3．1．1 概述
3．1．2 光学模拟
3．1．2 双频干涉术
3．1．4 双频干涉术与单频干涉术的区别
§3．2 光频调制技术
3．2．1 声光调制技术
3．2．2 磁光调制技术
3．2．3 电光调制技术
§3．3 激光外差干涉仪
3．3．1 激光外差干涉仪的原理
3．3．2 频率稳定的激光外差干涉仪
3．3．3 波长稳定的激光外差干涉仪
§3．4 外差偏振测距干涉仪
3．4．1 概述
3．4．2 基本原理
3．4．3 位相测量装置和线性工作原理
3．4．4 偏振差动干涉仪
3．4．5 测试方法
§3．5 实时外差干涉仪
3．5．1 概述
3．5．2 细光束外差位相探测
3．5．3 宽光束实时外差干涉仪
§3．6 空气折射率的测定
3．6．1 概述
3．6．2 外差位移测量折射仪
3．6．3 外差测距折射仪
本章参考文献
第四章 莫尔干涉术
§4．1 莫尔干涉测量原理
4．1．1 概述
4．1．2 莫尔条纹的形成及分类
4．1．3 阴影型莫尔条纹原理
4．1．4 衍射型莫尔条纹原理
§4．2 莫尔干涉术测位移
4．2．1 二光栅位移传感器
4．2．2 三光栅位移传感器
4．2．3 位移传感器的应用
§4．3 莫尔干涉术测面形
4．3．1 照射型莫尔法
4．2．2 投影型莫尔法
4．3．3 干涉投影法
§4．4 莫尔干涉术测变形和振动
4．4．1 平面外变形测量
4．4．2 平面内变形测量
4．4．3 振动测量
§4．5 莫尔干涉术测流体折射率及其梯度
4．5．1 折射率梯度测定
4．5．2 流体折射率测定
§4．6 莫尔条纹的自动处理
4．6．1 自动探测方法
4．6．2 计算机自动分析
本章参考文献
第五章 全息术
§5．1 全息术原理
§5．2 全息图的记录、储存和重现
5．2．1 全息图的记录
5．2．2 一个点的全息图记录
5．2．3 全息图的储存
5．2．4 全息图的波前再现
§5．3 全息图的分类
5．3．1 菲涅耳变换和傅里叶变换
5．3．2 按物波和参考波形成的方式分类
5．3．3 按记录干涉图的方式分类
§5．4 全息图的基本性质
§5．5 全息术的应用
5．5．1 全息显微术
5．5．2 全息信息存储
5．5．3 特征识别
5．5．4 用逆滤波器消除模糊
§5．6 实验中注意的问题
本章参考文献
第六章 全息干涉术
§6．1 全息干涉术原理
§6．2 全息干涉术的特征
§6．3 实时全息干涉术
§6．4 双曝光全息干涉术
§6．5 时间平均全息干涉术
§6．6 频闪照明全息干涉术
§6．7 全息等高线术
6．7．1 双光源照明法
6．7．2 双波长法
6．7．3 双折射率法
§6．8 反射照明全息图的计算
6．8．1 位移和倾斜的分析计算
6．8．2 三维变形的干涉条纹分析
§6．9 全息干涉术的应用
§6．10 计算全息图检验非球面
6．10．1 计算全息原理
6．10．2 计算全息图的制作
6．10．3 测试原理
本章参考文献
第七章 全信息测量技术
§7．1 自动处理全息图
7．1．1 概述
7．1．2 自动处理全息图
§7．2 实时全息干涉术的全信息测量
7．2．1 物理模型
7．2．2 位移与位相衫的基本关系式
7．2．3 三个干涉图法原理
7．2．4 四个干涉图法原理
7．2．5 移相器
7．2．6 数据的采集和处理
§7．3 双曝光全息干涉术的全信息测量
7．3．1 测量原理
7．3．2 基本公式
7．3．3 对两参考光源的要求
§7．4 全信息测量的光学系统
7．4．1 基本结构型式
7．4．2 参考光束位相的调制
7．4．3 频率漂移
§7．5 电学系统与自控技术
7．5．1 快门
7．5．2 电视摄相机
7．5．3 压电位移器
7．5．4 画图监视器和打印机
§7．6 表面变形的全信息测量
7．6．1 测试原理
7．6．2 典型系统
7．6．3 应用举例
§7．7 胶体硬化时厚度变化的全信息测量
7．7．1 基本原理
7．7．2 测试系统
7．7．3 测试结果
本章参考文献
第八章 散斑干涉术
§8．1 散斑及其特性
8．1．1 散斑现象
8．1．2 散斑特性
§8．2 散斑照相术测位移
§8．3 散斑照相术测振动
§8．4 散斑照相术测倾斜
§8．5 散斑干涉术
本章参考文献
第九章 光源、记录介质和探测器
§9．1 全息干涉对光源的要求
§9．2 气体激光器
§9．3 固体激光器
§9．4 对全息记录材料的要求
§9．5 卤化银照相乳胶
9．5．1 分辨率
9．5．2 线性响应
9．5．2 卤化银乳胶的漂白
§9．6 光导热塑料
§9．7 硅酸铋晶体
§9．8 电视摄像机
§9．9 固体图像传感器
9．9．1 固体传感器的基本结构
9．9．2 电荷传输技术
9．9．3 面阵图像传感器
9．9．4 扫描(抽样)理论
9．9．5 特征参数
9．9．6 信噪比
本章参考文献