数字电路实验教程

副标题：无

作者：南新志，刘计训主编;杨小革，王方越编写

分类号：

ISBN：9787560726984

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简介

简介

　　实验教学的目的不仅是验证已知的理论，训练学生的基本实验技能，更重要的是要培养学生具有科研能力和探索精神。本书编写的宗旨是：根据教学的基本要求，在实验方法和设计能力方面对学生进行全面的培养。做到适应性强、便于学生阅读、有利于学生的能力培养和因材施教。　　本书共分五大部分。第1章为第一部分，本章主要介绍了数字电路实验中器件的使用规则，实验时布线、故障排除的方法和注意事项以及常用仪器的使用方法。第2章为第二部分，由于《数字电路》课程是学习《电子设计自动化》和《单片机原理》等课程的基础，所以本章只介绍了可编程器件gal的基本原理和开发的方法及步骤，在系统可编程技术以及现场可编程器件的应用将在后续课程中进行学习。第3章为第三部分，本章根据理论课的学习顺序，给出了21个实验一课题，这些实验课题中既有验证性实验，也有设计性实验，每个实验都有多项实验内容，可供不同层次和不同实验学时的使用者进行选择。第4章为第四部分，本章为综合实验部分，给出了几个综合性的数字系统实验课题，用来培养学生运用秘学的知识进行综合设计数字系统的能力。附录1和附录2为第五部分，本部分整理汇编了近200余种数字集成电路的型号、外引线功能图、部分逻辑符号和功能表以及ttl和cmos集成电路的主要性能参数供读者参考，这部分相当于袖珍速查手册，对使用者提供了很大的方便。

目录
第1章实验基本知识
1.1集成电路的命名规则
1.2逻辑图形符号
1.3 TTL集成电路与CMOS集成电路的使用规则
1.4实验电路布线及常见故障的检查与排除
1.5常用仪器
第2章可编程逻辑器件GAL及应用
2.1 PLD的基本概念及发展过程
2.2通用阵列逻辑GAL
2.3 PLD开发的基本步骤
2.4 PLD的开发工具
2.5 几个GAL应用实例
第3章基本实验
实验1 常用仪器的使用及与非门的功能测试
实验2逻辑门外特性的测试
实验3 OC门与三态门逻辑功能的测试及应用
实验4组合电路设计实验之一
实验5组合电路设计实验之二
实验6中规模组合电路设计之一
实验7中规模组合电路设计之二
实验8七段显示译码器
实验9竞争冒险现象的观察与排除
实验10锁存器、触发器逻辑功能测试及相互转换
实验11用触发器设计同步计数器
实验12用触发器设计节拍发生器和序列信号发生器
实验13用触发器设计异步计数器
实验14集成计数器的功能测试及应用
实验15用集成计数器设计序列信号发生器及节拍发生器
实验16移位寄存器功能测试及应用
实验17 555定时器
实验18D/A转换器
实验19A/D转换器
实验20GAL实验之一
实验21GAL实验之二
第4章数字系统实验
系统实验1 三位数字频率计
系统实验2简易计算器
系统实验3三人抢答器
系统实验4带有校时功能的数字闹钟
附录1集成电路主要性能参数
一、TTL与非门的主要性能参数
二、CMOS或非门CC4001的主要性能参数
三、TTL集成触发器CT5474/7474等的主要性能参数
四、MOS集成触发器CC4027的主要性能参数
附录2部分常用数字集成电路选编
一、部分常用数字集成电路的型号、功能、外引线图号表
二、部分常用数字集成电路的外引线功能图表
三、部分常用数字集成电路的逻辑符号及功能表
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