晶体结构与测定

0 绪论
1 晶体的点阵结构
1.1 晶体结构的周期性与点阵
1.1.1 晶体结构的周期性
1.1.2 点阵结构与点阵
1.1.3 点阵及其基本性质
1.2 晶体结构参数
1.2.1 晶胞参数与原子坐标参数
1.2.2 正当点阵单位与正当晶胞
1.2.3 点阵点、直线点阵、平面点阵的指标
1.2.4 几个计算公式
1.3 晶体特征及其结构基础
1.3.1 晶体的均匀性
1.3.2 晶体的各向异性
1.3.3 晶体的自范性
1.3.4 晶体的熔点
1.3.5 晶体的对称性
1.3.6 晶体对X射线的衍射
1.4 实际晶体
1.4.1 理想晶体与实际晶体
1.4.2 单晶体、多晶体与微晶体
1.4.3 同质多晶和类质多晶
1.4.4 非整比化合物
2 晶体的对称性
2.1 晶体的宏观对称性与32点群
2.1.1 有关晶体对称性的两个基本原理
2.1.2 晶体的宏观对称元素和32点群
2.1.3 晶体学点群的推引和分类
2.1.4 点群的直观表示:极射赤平投影
2.1.5 晶体学点群的子群和母群
2.1.6 晶体的点群和晶体的物理性质
2.1.7 晶系与晶体的空间点阵型式
2.2 晶体的微观对称性与230空间群
2.2.1 空间对称操作及相应的微观对称元素
2.2.2 晶体的微观对称元素系与空间群
2.2.3 空间群的两种图形表示方法
2.2.4 晶体结构的表达及应用
2.3 准晶体
2.3.1 菱面体堆砌
2.3.2 二十面体密堆积
2.3.3 二十面体骨架
3 晶体的X射线衍射
3.1 晶体对X射线的衍射效应
3.1.1 X射线基础知识
3.1.2 晶体对X射线的衍射效应
3.2 衍射方向与晶体结构参数
3.2.1 劳埃(Laue)方程
3.2.2 布拉格(Bragg)方程
3.3 倒易点阵
3.3.1 倒易向量
3.3.2 倒易点阵的建立
3.3.3 倒易点阵的性质
3.3.4 倒易点阵的单位
3.3.5 倒易点阵与正点阵的关系
3.3.6 倒易点阵与衍射方向
3.4 衍射强度与晶胞内原子的种类及分布
3.4.1 影响衍射强度的主要因素
3.4.2 原子对X射线的衍射——原子散射因子
3.4.3 晶胞对X射线的衍射——结构因子
3.4.4 晶体对X射线的衍射——电子密度分布函数
3.4.5 系统消光
4 晶体X射线衍射实验方法
4.1 单晶照相法
4.1.1 回摆法
4.1.2 等倾斜魏森堡照相法
4.2 四圆衍射仪法
4.2.1 四圆测角仪
4.2.2 四圆衍射仪的工作原理
4.2.3 晶体坐标与仪器坐标的关系
4.3 多晶衍射法及应用
4.3.1 照相法
4.3.2 衍射仪法
4.3.3 多晶衍射法的应用
5 测定晶体结构的方法
5.1 晶体结构测定的一般步骤
5.1.1 晶体样品的处理
5.1.2 测定晶胞参数,收集衍射强度
5.1.3 衍射图的指标化和空间群的测定
5.1.4 强度的测定、统一、修正和还原
5.1.5 相角的测定
5.1.6 电子密度函数的计算和原子坐标的修正
5.1.7 结构的描述
5.1.8 探讨结构和性质间的联系
5.2 相角问题
5.3 模型法
5.3.1 晶体的性质和晶体结构的关系
5.3.2 空间考虑
5.3.3 晶体结构遵循的一般规律
5.4 Patterson函数法
5.4.1 Patterson函数和向量空间
5.4.2 Patterson函数的性质
5.4.3 从帕特逊函数测定晶体结构的一般步骤
5.5 电子密度函数法
5.5.1 完成部分已知的结构(F_o合成法)
5.5.2 完成已知部分衍射相角的结构
5.5.3 差值电子密度函数法
5.6 直接法
5.6.1 单位结构因子和归一结构因子
5.6.2 E图及其应用
6 晶体结构的修正与常用程序简介
6.1 空间群测定
6.1.1 系统消光的应用
6.1.2 对称中心的确定
6.2 晶体结构的修正与描述
6.2.1 结构的完成与确定
6.2.2 最小二乘法修正
6.2.3 结构模型的正确性
6.3 SHELXTL程序简介
6.4 CIF文件
6.4.1 CIF文件的产生
6.4.2 GIF文件的格式
6.5 晶体学数据库
参考文献