Materials characterization techniques

前言
第一章 绪论
第二章 接触角在表面分析中的应用
2.1 引言
2.2 接触角测量
2.2.1 静态和动态静滴法
2.2.2 Wilhelmy平板法
2.2.3 封闭气泡法
2.2.4 毛细管上升法
2.2.5 倾斜基底法
2.3 均匀固体表面能的确定
2.3.1 表面张力组成
2.3.2 物态方程
2.4 研究实例
2.4.1 福克斯（Fowkes）
2.4.2 无定形碳的表面能的研究实例
2.5 小结
参考文献

第三章 x射线光电子能谱和俄歇电子能谱
3.1 绪论
3.2 原子模型和原子的电子结构
3.2.1 能级
3.2.2 自旋一轨道劈裂
3.2.3 平均自由程
3.3 XPS和AES工作原理
3.3.1 光致电离
3.3.2 俄歇电子的产生
3.3.3 背景消除
3.3.4 XPS的化学位移现象
3.3.5 定量分析
3.3.6 线形
3.3.7 深度分布
3.4 仪器设备
3.4.1 真空系统
3.4.2 X射线源
3.4.3 单色仪
3.4.4 电子束的产生
3.4.5 分析器
3.4.6 电子探测器
3.4.7 通道式电子倍增器
3.4.8 多通道板
3.4.9 样品
3.4.10 附件
3.5 XPS技术的常规缺陷
3.5.1 定量精度
3.5.2 分析时间
3.5.3 探测极限
3.5.4 分析区域限制
3.5.5 样品尺寸限制
3.5.6 检测造成的样品畸变
3.5.7 俄歇电子能谱（AES）、X射线光电子能谱（XPS）和能谱仪（EDS）的比较
3.6 XPS应用及实例分析
3.6.1 掺杂效应的测定
3.6.2 化学反应的检测
3.6.3 化学共价性的检测
3.6.4 深度分析
3.6.5 谱峰重叠问题
3.6.6 检测薄膜组成
3.7 AES的应用
3.7.1 材料表面元素的识别
3.7.2 元素浓度和化学计量的检测
3.7.3 强度与时间关系曲线
3.7.4 化学位移
3.7.5 线形变化
3.7.6 深度分析
3.8 总结
参考文献

第四章 扫描隧道显微镜和原子力显微镜
4.1 引言
4.2 工作原理
4.2.1 扫描隧道显微镜
4.2.2 原子力显微镜
4.3 仪器
4.3.1 针尖和微悬臂
4.3.2 压电扫描器
4.3.3 隔振
4.3.4 分辨率
4.4 操作模式
4.4.1 扫描隧道显微镜
4.4.2 原子力显微镜
4.5 STM与AFM的差异
4.6 应用
4.6.1 STM研究
4.6.2 AFM研究
参考文献

第五章 x射线衍射
5.1 X射线的特性与产生
5.2 晶面和布拉格（Bragg）定律
5.3 粉末衍射法
5.4 薄膜衍射法
5.5 结构测量
5.6 掠射角X射线衍射法
参考文献

第六章 透射电子显微镜
6.1 透射电子显微镜基础
6.2 倒易晶格
6.3 样本制备
6.4 明场像和暗场像
6.5 电子能量损失能谱
参考文献

第七章 扫描电子显微镜
7.1 扫描电子显微镜介绍
7.1.1 历史背景
7.1.2 扫描电子显微镜原理
7.2 电子束与样品的相互作用
7.2.1 背散射电子
7.2.2 二次电子
7.2.3 特征x射线和俄歇电子
7.3 扫描电子显微镜操作参数
7.3.1 概论
7.3.2 扫描电子显微镜特性
7.3.3 扫描电子显微镜的操作参数
7.4 应用
7.4.1 扫描电子显微镜在合成金刚石薄膜中的应用
7.4.2 扫描电子显微镜在电子设备中的应用
7.4.3 扫描电子显微镜在合成SiC涂层上的应用
7.4.4 金刚石涂层的wC-Co衬底的扫描电子显微镜分析
参考文献

第八章 色谱分析
8.1 引言
8.2.色谱法基本原理
8.2.1 色谱法的分类
8.2.2 分离模式和机制
8.2.3 分配和保留时间的基本原理
8.3 离子交换色谱法
8.3.1 影响离子交换色谱分离的因素
8.3.2 蛋白质分离
8.4 凝胶渗透色谱法
8.4.1 分子和分子量分布
8.4.2 凝胶渗透色谱的操作
8.4.3 聚合物标准物和校正曲线
8.4.4 样品的制备
8.4.5 凝胶渗透色谱应用于水溶性的聚合物
第九章 红外光谱及紫外线-可见光谱
第十章 宏观和微观热分析
第十一章 激光共焦荧光显微镜
英汉词汇对照