简介
本书详细地介绍了vxi总线规范、vpp规范、vxi仪器硬件模块的设计，符合vpp规范的软件设计（包括仪器驱动程序、软面板、visa库应用程序的设计）、vxi系统的组建、ieee188.1、ieee488.2和scpi标准，此外还对pxi总线测试系统以及ivi规范作了介绍。
本书所举的应用实例大多来自哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所多年的vxi、ieee488测试系统的科研及开发工作以及自动测试系统课程的教学实践，内容丰富、详实。
本书可作为工科院校仪器仪表、自动化测试及检测专业的本科生、研究生学习自动测试系统的有关规范、标准、掌握符合vxi规范、vpp规范的硬件、软件设计以及vxi自动测试系统的组建等方面知识的教材，也可供从事仪器仪表、自动测试的工程技术人员参考。
目录
第一章 自动测试系统概论
1.1 什么是自动测试系统
1.2 自动测试系统的组成
1.3 自动测试系统的发展概况
1.3.1 第一代自动测试系统
1.3.2 第二代自动测试系统
1.3.3 VXI总线自动测试系统
1.4 VXI总线自动测试系统的特点
1.5 自动测试系统的发展方向
第二章 VXI总线规范
2.1 引言
2.2 VXI总线系统结构
2.2.1 VXI总线系统的主计算机及其接口
2.2.2 VXI总线主机箱及模块(Module)
2.2.3 器件(Device)
2.2.4 资源管理器和0槽服务
2.3 VXI总线的总线构成及功能
2.3.1 VME总线的特点及结构
2.3.2 VXI增加的总线
2.4 VXI总线系统的通信协议
2.4.1 器件寄存器的基地址及地址分配
2.4.2 配置寄存器
2.4.3 通信寄存器
2.4.4 数据的传送协议
2.4.5 其它协议
2.5 VXI总线器件的操作
2.5.1 VXI总线器件的初始化与自检过程
2.5.2 优先级中断
第三章 VXI总线接口电路及模块设计
3.1 引言
3.2 VXI总线接口设计方案
3.2.1 消息基器件的VXI总线接口方案
3.2.2 带有智能芯片的寄存器基器件的VXI总线接口方案
3.2.3 无智能芯片的寄存器基器件的VXI总线接口方案
3.3 VXI总线任意波形发生器模块硬件设计
3.3.1 技术指标及合成波形的工作原理
3.3.2 接口设计方案
3.3.3 接口电路的实现
3.3.4 模块的功能电路设计
3.4 VXI总线高性能数据发生器模块的硬件设计
3.4.1 技术指标及基本工作原理
3.4.2 VXI总线接口方案
3.4.3 接口控制方式的选择
3.4.4 VXI总线接口电路的实现
3.5 零槽控制器模块硬件设计
3.5.1 引言
3.5.2 模块的基本结构
3.5.3 模块的功能与技术指标
3.5.4 模块的硬件电路设计
第四章 VXI总线即插即用规范
4.1 VXI总线即插即用规范的提出
4.2 VXI总线即插即用系统及其特点
4.3 系统框架
4.3.1 系统框架的概念
4.3.2 系统框架的定义与描述
4.4 仪器驱动程序
4.4.1 VPP仪器驱动程序的由来
4.4.2 VPP仪器驱动程序的特点
4.4.3 仪器驱动程序的结构模型
4.4.4 仪器驱动程序函数简介
4.4.5 仪器驱动程序功能面板
4.5 虚拟仪器软件结构VISA
4.5.1 VISA简介
4.5.2 VISA的结构
4.5.3 VISA的特点
4.5.4 VISA的现状
4.5.5 VISA的应用举例
4.5.6 VISA资源描述
4.5.7 VISA中事件的分析与处理
4.5.8 VISA的资源定义
4.6 软面板规范
4.7 VPP知识库文件及其它VPP规范
第五章 自动测试系统软件设计
5.1 软件设计的要求及关键技术
5.1.1 自动测试系统软件设计的要求
5.1.2 软件设计的关键技术
5.2 软件开发环境
5.2.1 LabWindows/CVI简介
5.2.2 LabView与HPVEE简介
5.3 软面板的设计
5.3.1 VXI软面板的设计原则
5.3.2 软面板设计举例
5.4 VISA在编程中的应用
5.4.1 VISA应用例1
5.4.2 VISA应用例2
5.4.3 VISA应用例3
5.4.4 VISA应用例4
5.5 仪器驱动程序的设计
5.5.1 仪器驱动程序的设计步骤
5.5.2 仪器驱动程序设计举例
5.6 中断编程
5.6.1 VXI系统中的事件及处理方法
5.6.2 回调函数法处理VXI事件用到的函数
5.6.3 用回调函数法处理VXI中断例程
5.7 ODBC技术
5.8 自动测试软件框架
5.8.1 自动测试软件框架提出的原因和核心内容
5.8.2 自动测试软件框架结构
5.8.3 自动测试软件框架的使用方法
5.8.4 自动测试流程库的结构
5.8.5 自动测试软件框架的主调流程
5.8.6 自动测试软件框架的扩充升级
5.9 IVI规范
5.9.1 引言
5.9.2 IVI技术的发展背景及特点
5.9.3 应用IVI技术构建自动测试系统
第六章 VXI总线自动测试系统的集成
6.1 引言
6.2 需求分析
6.3 确定系统体系结构
6.3.1 外置计算机体系结构
6.3.2 内嵌计算机体系结构
6.3.3 几种体系结构的对比
6.4 测试设备选择
6.4.1 VXI总线仪器模块的选择
6.4.2 VXI主机箱的选择
6.4.3 确定被测对象接口
6.4.4 配置系统
6.5 软件开发环境的选择
6.6 软件设计与开发
6.6.1 VXI总线测试系统的软件构成
6.6.2 软件开发
6.7 文件编制
6.8 模块化软件结构设计方法
6.9 PXI模块仪器系统简介
6.9.1 引言
6.9.2 PXI总线的提出
6.9.3 PXI系统与VXI系统的比较
6.9.4 PXI的基本性能及特点
6.9.5 PXI模块仪器系统的构成
6.9.6 PXI模块仪器系统的应用
第七章 IEEE488.1标准接口系统
7.1 引言
7.2 标准接口系统的性能和母线结构
7.2.1 基本概念
7.2.2 标准接口系统的基本性能
7.2.3 母线结构及信号线
7.2.4 母线电缆和接插头
7.2.5 寻址
7.3 接口功能与器件接口功能设置
7.3.1 接口功能
7.3.2 器件内部接口功能设置
7.4 信息编码及传递
7.4.1 消息分类
7.4.2 消息编码
7.4.3 消息的传递
7.5 接口功能状态图
7.5.1 状态图的表示方法
7.5.2 DT接口功能状态图
7.5.3 L(LE)接口功能状态图
7.5.4 AH接口功能状态图
7.5.5 T(TE)接口功能状态图
7.5.6 SH接口功能状态图
7.5.7 C接口功能状态图
7.6 接口系统的运行
7.6.1 三线连锁挂钩过程
7.6.2 数传内容与传递方式
7.6.3 常用操作序列
7.7 初级接口功能的实现
7.7.1 常用的GPIB接口芯片
7.7.2 μpD7210芯片介绍
7.7.3 计算机的GPIB接口
7.8 GPIB软件设计举例
7.8.1 采用BASIC语言的编程举例
7.8.2 采用ISA库函数的编程举例
7.9 IEEE488.2标准与SCPI简介
7.9.1 IEEE488.2标准
7.9.2 可程控仪器标准命令--SCPI
附录A SR、RL、PP、DC接口功能状态图
附录B IEEE488.2需要的IEEE488.1功能子集
附录C ASCII码表(7比特)
参考文献
1.1 什么是自动测试系统
1.2 自动测试系统的组成
1.3 自动测试系统的发展概况
1.3.1 第一代自动测试系统
1.3.2 第二代自动测试系统
1.3.3 VXI总线自动测试系统
1.4 VXI总线自动测试系统的特点
1.5 自动测试系统的发展方向
第二章 VXI总线规范
2.1 引言
2.2 VXI总线系统结构
2.2.1 VXI总线系统的主计算机及其接口
2.2.2 VXI总线主机箱及模块(Module)
2.2.3 器件(Device)
2.2.4 资源管理器和0槽服务
2.3 VXI总线的总线构成及功能
2.3.1 VME总线的特点及结构
2.3.2 VXI增加的总线
2.4 VXI总线系统的通信协议
2.4.1 器件寄存器的基地址及地址分配
2.4.2 配置寄存器
2.4.3 通信寄存器
2.4.4 数据的传送协议
2.4.5 其它协议
2.5 VXI总线器件的操作
2.5.1 VXI总线器件的初始化与自检过程
2.5.2 优先级中断
第三章 VXI总线接口电路及模块设计
3.1 引言
3.2 VXI总线接口设计方案
3.2.1 消息基器件的VXI总线接口方案
3.2.2 带有智能芯片的寄存器基器件的VXI总线接口方案
3.2.3 无智能芯片的寄存器基器件的VXI总线接口方案
3.3 VXI总线任意波形发生器模块硬件设计
3.3.1 技术指标及合成波形的工作原理
3.3.2 接口设计方案
3.3.3 接口电路的实现
3.3.4 模块的功能电路设计
3.4 VXI总线高性能数据发生器模块的硬件设计
3.4.1 技术指标及基本工作原理
3.4.2 VXI总线接口方案
3.4.3 接口控制方式的选择
3.4.4 VXI总线接口电路的实现
3.5 零槽控制器模块硬件设计
3.5.1 引言
3.5.2 模块的基本结构
3.5.3 模块的功能与技术指标
3.5.4 模块的硬件电路设计
第四章 VXI总线即插即用规范
4.1 VXI总线即插即用规范的提出
4.2 VXI总线即插即用系统及其特点
4.3 系统框架
4.3.1 系统框架的概念
4.3.2 系统框架的定义与描述
4.4 仪器驱动程序
4.4.1 VPP仪器驱动程序的由来
4.4.2 VPP仪器驱动程序的特点
4.4.3 仪器驱动程序的结构模型
4.4.4 仪器驱动程序函数简介
4.4.5 仪器驱动程序功能面板
4.5 虚拟仪器软件结构VISA
4.5.1 VISA简介
4.5.2 VISA的结构
4.5.3 VISA的特点
4.5.4 VISA的现状
4.5.5 VISA的应用举例
4.5.6 VISA资源描述
4.5.7 VISA中事件的分析与处理
4.5.8 VISA的资源定义
4.6 软面板规范
4.7 VPP知识库文件及其它VPP规范
第五章 自动测试系统软件设计
5.1 软件设计的要求及关键技术
5.1.1 自动测试系统软件设计的要求
5.1.2 软件设计的关键技术
5.2 软件开发环境
5.2.1 LabWindows/CVI简介
5.2.2 LabView与HPVEE简介
5.3 软面板的设计
5.3.1 VXI软面板的设计原则
5.3.2 软面板设计举例
5.4 VISA在编程中的应用
5.4.1 VISA应用例1
5.4.2 VISA应用例2
5.4.3 VISA应用例3
5.4.4 VISA应用例4
5.5 仪器驱动程序的设计
5.5.1 仪器驱动程序的设计步骤
5.5.2 仪器驱动程序设计举例
5.6 中断编程
5.6.1 VXI系统中的事件及处理方法
5.6.2 回调函数法处理VXI事件用到的函数
5.6.3 用回调函数法处理VXI中断例程
5.7 ODBC技术
5.8 自动测试软件框架
5.8.1 自动测试软件框架提出的原因和核心内容
5.8.2 自动测试软件框架结构
5.8.3 自动测试软件框架的使用方法
5.8.4 自动测试流程库的结构
5.8.5 自动测试软件框架的主调流程
5.8.6 自动测试软件框架的扩充升级
5.9 IVI规范
5.9.1 引言
5.9.2 IVI技术的发展背景及特点
5.9.3 应用IVI技术构建自动测试系统
第六章 VXI总线自动测试系统的集成
6.1 引言
6.2 需求分析
6.3 确定系统体系结构
6.3.1 外置计算机体系结构
6.3.2 内嵌计算机体系结构
6.3.3 几种体系结构的对比
6.4 测试设备选择
6.4.1 VXI总线仪器模块的选择
6.4.2 VXI主机箱的选择
6.4.3 确定被测对象接口
6.4.4 配置系统
6.5 软件开发环境的选择
6.6 软件设计与开发
6.6.1 VXI总线测试系统的软件构成
6.6.2 软件开发
6.7 文件编制
6.8 模块化软件结构设计方法
6.9 PXI模块仪器系统简介
6.9.1 引言
6.9.2 PXI总线的提出
6.9.3 PXI系统与VXI系统的比较
6.9.4 PXI的基本性能及特点
6.9.5 PXI模块仪器系统的构成
6.9.6 PXI模块仪器系统的应用
第七章 IEEE488.1标准接口系统
7.1 引言
7.2 标准接口系统的性能和母线结构
7.2.1 基本概念
7.2.2 标准接口系统的基本性能
7.2.3 母线结构及信号线
7.2.4 母线电缆和接插头
7.2.5 寻址
7.3 接口功能与器件接口功能设置
7.3.1 接口功能
7.3.2 器件内部接口功能设置
7.4 信息编码及传递
7.4.1 消息分类
7.4.2 消息编码
7.4.3 消息的传递
7.5 接口功能状态图
7.5.1 状态图的表示方法
7.5.2 DT接口功能状态图
7.5.3 L(LE)接口功能状态图
7.5.4 AH接口功能状态图
7.5.5 T(TE)接口功能状态图
7.5.6 SH接口功能状态图
7.5.7 C接口功能状态图
7.6 接口系统的运行
7.6.1 三线连锁挂钩过程
7.6.2 数传内容与传递方式
7.6.3 常用操作序列
7.7 初级接口功能的实现
7.7.1 常用的GPIB接口芯片
7.7.2 μpD7210芯片介绍
7.7.3 计算机的GPIB接口
7.8 GPIB软件设计举例
7.8.1 采用BASIC语言的编程举例
7.8.2 采用ISA库函数的编程举例
7.9 IEEE488.2标准与SCPI简介
7.9.1 IEEE488.2标准
7.9.2 可程控仪器标准命令--SCPI
附录A SR、RL、PP、DC接口功能状态图
附录B IEEE488.2需要的IEEE488.1功能子集
附录C ASCII码表(7比特)
参考文献
自动测试系统
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