数字电路的诊断与测试

副标题:无

作   者:王文章编著

分类号:

ISBN:9787560503905

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简介

购买方法:点击“蓝色文字收藏品”或者“可以从“这些卖家”购买” .....................购买说明:此书为绝版图书,售价高于原价作者:王文章编著  页数:403  出版社:西安市:西安交通大学出版社  出版日期:1991.06 

目录


目录
第一章 概论
第一节 故障的定义与分类
第二节 逻辑故障模型
第三节 逻辑故障分析
第四节 数字系统的测试
第五节 故障的检测和诊断
习题
第二章 布尔方程组的解法
第一节 数字电路及数学模型
第二节 代数法
第三节 方阵求解法
第四节 通路求解法
习题
第三章 通路敏化法
第一节 一维通路敏化法
第二节 D算法
第三节 主通路敏化法
第四节 消去法
习题
第四章 布尔差分法
第一节 一阶布尔差分
第二节 布尔差分的计算方法
第三节 高阶布尔差分
第四节 布尔微分
习题
第五章 故障字典
第一节 建立故障字典的无关通路消去法
第二节 奎恩—麦克拉斯基法
习题
第六章 最小测试集的生成方法
第一节 故障矩阵法
第二节 最佳通路覆盖法
第三节 单输出逻辑电路的最小测试集
习题
第七章 状态方程组的解法
第一节 迭代法
第二节 并行算法与时序机的矩阵模型
第三节 “枝”迭代与“树”迭代公式
习题
第八章 时序电路的线路测试法
第一节 状态表法
第二节 故障矩阵映射法
习题
第九章 时序机的检错实验
第一节 引导序列(HS)与同步序列(SS)
第二节 区分序列(DS)和状态判定
第三节 完全检错实验的设计
习题
第十章 时序机的功能测试
第一节 求最短同步序列的并行算法
第二节 求最短区分序列的并行算法
第三节 求最短引导序列的并行算法
第四节 故障检测表的构造方法
第五节 功能测试序列的构造方法
习题
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数字电路的诊断与测试
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