材料现代分析与测试技术

　　第一章 X射线衍射分析
　　 引言
　　 1.1 X射线的性质及X射线的产生
　　 1.1.1 X射线的性质
　　 1.1.2 X射线的产生
　　 1.1.3 X射线谱
　　 1.1.4 X射线的吸收和单色X射线的获得
　　 1.2 X射线与物质的相互作用
　　 1.2.1 散射效应
　　 1.2.2 光电效应
　　 1.3 X射线衍射的基本理论
　　 1.3.1 倒易点阵
　　 1.3.2 X射线衍射几何条件
　　 1.3.3 X射线衍射线束的强度
　　 1.4 X射线衍射分析方法
　　 1.4.1 多晶体材料衍射分析研究方法
　　 1.4.2 单晶体材料衍射分析研究方法
　　 1.5 衍射数据的基本处理
　　 1.5.1 人工数据处理
　　 1.5.2 计算机数据处理
　　 1.6 X射线衍射的分析与应用
　　 1.6.1 X射线衍射分析的应用
　　 1.6.2 人工手动分析与应用
　　 1.6.3 计算机程序分析与应用
　　 参考文献
　　第二章 电子显微分析
　　 2.1 电子光学基础
　　 2.1.1 电子光学概述
　　 2.1.2 电子在电场中的运动与静电透镜
　　 2.1.3 电子在磁场中的运动与电磁透镜
　　 2.1.4 电磁透镜的像差和理论分辨力
　　 2.1.5 电磁透镜的场深和焦深
　　 2.2 电子显微基础
　　 2.2.1 电子显微概述
　　 2.2.2 电子与固体的相互作用的物理信号
　　 2.2.3 电子与固体的相互作用的物理本质
　　 2.2.4 相互作用体积与信号产生的深度和广度
　　 2.3 透射电子显微镜
　　 2.3.1 透射电镜的结构及原理
　　 2.3.2 透射电镜的主要部件及用途
　　 2.3.3 透射电镜的主要性能指标
　　 2.4 电子衍射
　　 2.4.1 电子衍射基本公式
　　 2.4.2 透射电镜中的电子衍射方法
　　 2.4.3 电子衍射谱的标定简介
　　 2.5 透射电子显微像
　　 2.5.1 透射电镜制样方法
　　 2.5.2 质厚衬度与复型膜电子显微像
　　 2.5.3 衍射衬度与衍衬像
　　 2.5.4 相位衬度与高分辨力像
　　 2.5.5 透射电镜在无机材料中的应用
　　 2.6 扫描电子显微镜
　　 2.6.1 扫描电子显微镜的结构
　　 2.6.2 扫描电子显微镜的特点及性能指标
　　 2.6.3 扫描电子显微镜的工作原理
　　 2.7 扫描电镜显微图像
　　 2.7.1 扫描电镜试样制备
　　 2.7.2 扫描电镜的衬度及显微图像
　　 2.7.3 扫描电镜在无机材料中的应用
　　 2.8 电子探针显微分析
　　 2.8.1 电子探针显微分析仪的结构及分类
　　 2.8.2 波谱仪的主要部件及原理
　　 2.8.3 能谱仪的主要部件及原理
　　 2.8.4 波谱仪和能谱仪的比较
　　 2.8.5 电子探针显微分析方法
　　 2.9 其他显微分析方法
　　 2.9.1 扫描隧道显微镜
　　 2.9.2 原子力显微镜
　　 2.9.3 扫描探针显微镜的应用与发展
　　 参考文献
　　第三章 热分析
　　 3.1 热分析概述
　　 3.1.1 热分析发展历史
　　 3.1.2 热分析的术语定义与分类
　　 3.1.3 热分析一般术语
　　 3.2 差热分析
　　 3.2.1 差热分析的基本原理与差热分析仪
　　 3.2.2 差热分析仪
　　 3.2.3 差热分析方法
　　 3.2.4 差热曲线的分析及影响因素
　　 3.3 示差扫描量热法(DSC)
　　 3.3.1 示差扫描量热法基本原理
　　 3.3.2 示差扫描量热仪
　　 3.3.3 影响示差扫描量热分析的因素
　　 3.4 差热分析与示差扫描量热法的应用
　　 3.4.1 玻璃化转变温度Tg的DTA或DSC测定法
　　 3.4.2 熔融和结晶温度的DTA或DSC测定法
　　 3.4.3 确定水在化合物中的存在状态
　　 3.4.4 转变点的测定
　　 3.4.5 结晶度的测定
　　 3.4.6 二元相图的测绘
　　 3.5 热重分析
　　 3.5.1 热重分析的基本原理
　　 3.5.2 热重分析仪
　　 3.5.3 热重分析的方法……