简介
本书是在北京大学物理系近代物理实验室1978年恢复、重建以来开设的近代物理实验课程基础上,参照1980年教育部召开的全国综合性大学物理系“近代物理实验”课程设置和教材编写会议制定的教学大纲编写的,全书包括原子物理、核探测技术及应用、光学、真空技术X射线和电子衍射、磁共振、微波、低温物理、半导体物理等方面十个单元。第二版包括基本实验30个,选做实验14个。
本书可作为高等院校物理专业本科生和其他专业本科生或研究生的近代物理实验课程的教学参考书,也可供从事实验物理的科技人员参考。
目录
实验误差和数据处理
§1 引言
§2 随机变量
§3 数据处理(ⅰ),分布参数估计与分布规律的检验
§4 数据处理(ⅱ):曲线拟合
§5 限制和消除系统误差的一些方法
第一单元 原子物理
1-0 引言
1-1 弗兰克-赫兹实验
1-2 氢原子光谱的同位素移位
附录 平面光栅摄谱仪
1-3 钠原子光谱的拍摄与分析
1-4 塞曼效应
1-5 x射线标识谱与吸收
1-6 co埃氏(angstrom)带系光谱
1-7 振动喇曼光谱
第二单元 核探测技术及应用
2-0 引言
附录一 核衰变的统计规律和放射性测量的统计误差
附录二 常用核电子仪器的功能及其使用
.附录三 放射源的安全操作与防护
2-1 盖革-米勒计数器和核衰变的统计规律
2-2 nai(t1)闪烁谱仪测定y射线的能谱
2-3 符合测量
*2-4 穆斯堡尔效应
*2-5 用9粒子验证相对论的动量-动能关系
附录 等效平均磁感应强度的计算
* 2-6 正电子在物质中寿命的测量
第三单元 激光、全息与光学信息处理
3-0 引言
3-1 he-ne气体激光器放电条件的研究
3-2 he-ne激光器的纵模及横模分析
3-3 全息照相与全息干涉计量方法
3-4 利用复合光栅实现光学微分处理
附录 傅里叶变换的基本公式
*3-5 图俊识别
第四单元 其他光学实验
4-0 引言
4-1 相位法测量光的速度
附录 相位测量中的周期误差
4-2 用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度
4-3 法拉第效应
*4-4 单光子计数
*4-5 晶体的电光效应及其应用--用相位补偿测量双折射样品的微小相位差
*4-6 光学双稳实验
附录 会聚偏振光的干涉
第五单元 奠空技术
5-0 引言
附录 常用真空泵和真空计简介
5-1 高压强电离真空计的校准
5-2 磁偏转质谱仪
第六单元 x射线和电子衍射
6-0 引言
附录 晶体衍射的基本知识
6-1 用x射线测定多晶体的晶格常数(德拜相法)
6-2 电子衍射
*6-3 有确定取向晶体的x光劳厄相
*6-4 单晶体晶轴方向的确定(非对称劳厄相)
第七单元 磁共振
7-0 引言
7-1 核磁共振
7-2 电子自旋共振
7-3 光泵磁共振
附录一 二级塞曼效应及双量子跃迁的观察
附录二 角动量耦合及耦合磁矩的矢量模型
第八单元 微波实验
8-0 引言
附录 微波基本知识
8-1 反射式速调管的工作特性和波导管的工作状态
8-2 用传输式谐振腔观测铁磁共振
*8-3 用谐振腔微扰法测量介质材料的微波介电常数和磁导率
*8-4 用谐振腔特征方程法测量微波介质材料的特性
第九单元 低温物理实验
9-0 引言
附录 使用低温液体的注意事项
9-1 纯铜低温热导率的测量
9-2 电阻的温度关系和减压降温技术
9-3 液氮温区高温超导体两个基本特性的观察
第十单元 半导体物理实验
10-0 引言
附录 半导体物理的基础知识
10-1 硅的霍耳系数及电阻率的测量
10-2 用电容-电压法测量半导体中的杂质分布
*10-3 用取样示波器测量晶体二极管的反向恢复时间
*10-4 肖脱墓势垒的测量
附表
§1 引言
§2 随机变量
§3 数据处理(ⅰ),分布参数估计与分布规律的检验
§4 数据处理(ⅱ):曲线拟合
§5 限制和消除系统误差的一些方法
第一单元 原子物理
1-0 引言
1-1 弗兰克-赫兹实验
1-2 氢原子光谱的同位素移位
附录 平面光栅摄谱仪
1-3 钠原子光谱的拍摄与分析
1-4 塞曼效应
1-5 x射线标识谱与吸收
1-6 co埃氏(angstrom)带系光谱
1-7 振动喇曼光谱
第二单元 核探测技术及应用
2-0 引言
附录一 核衰变的统计规律和放射性测量的统计误差
附录二 常用核电子仪器的功能及其使用
.附录三 放射源的安全操作与防护
2-1 盖革-米勒计数器和核衰变的统计规律
2-2 nai(t1)闪烁谱仪测定y射线的能谱
2-3 符合测量
*2-4 穆斯堡尔效应
*2-5 用9粒子验证相对论的动量-动能关系
附录 等效平均磁感应强度的计算
* 2-6 正电子在物质中寿命的测量
第三单元 激光、全息与光学信息处理
3-0 引言
3-1 he-ne气体激光器放电条件的研究
3-2 he-ne激光器的纵模及横模分析
3-3 全息照相与全息干涉计量方法
3-4 利用复合光栅实现光学微分处理
附录 傅里叶变换的基本公式
*3-5 图俊识别
第四单元 其他光学实验
4-0 引言
4-1 相位法测量光的速度
附录 相位测量中的周期误差
4-2 用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度
4-3 法拉第效应
*4-4 单光子计数
*4-5 晶体的电光效应及其应用--用相位补偿测量双折射样品的微小相位差
*4-6 光学双稳实验
附录 会聚偏振光的干涉
第五单元 奠空技术
5-0 引言
附录 常用真空泵和真空计简介
5-1 高压强电离真空计的校准
5-2 磁偏转质谱仪
第六单元 x射线和电子衍射
6-0 引言
附录 晶体衍射的基本知识
6-1 用x射线测定多晶体的晶格常数(德拜相法)
6-2 电子衍射
*6-3 有确定取向晶体的x光劳厄相
*6-4 单晶体晶轴方向的确定(非对称劳厄相)
第七单元 磁共振
7-0 引言
7-1 核磁共振
7-2 电子自旋共振
7-3 光泵磁共振
附录一 二级塞曼效应及双量子跃迁的观察
附录二 角动量耦合及耦合磁矩的矢量模型
第八单元 微波实验
8-0 引言
附录 微波基本知识
8-1 反射式速调管的工作特性和波导管的工作状态
8-2 用传输式谐振腔观测铁磁共振
*8-3 用谐振腔微扰法测量介质材料的微波介电常数和磁导率
*8-4 用谐振腔特征方程法测量微波介质材料的特性
第九单元 低温物理实验
9-0 引言
附录 使用低温液体的注意事项
9-1 纯铜低温热导率的测量
9-2 电阻的温度关系和减压降温技术
9-3 液氮温区高温超导体两个基本特性的观察
第十单元 半导体物理实验
10-0 引言
附录 半导体物理的基础知识
10-1 硅的霍耳系数及电阻率的测量
10-2 用电容-电压法测量半导体中的杂质分布
*10-3 用取样示波器测量晶体二极管的反向恢复时间
*10-4 肖脱墓势垒的测量
附表
近代物理实验
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