材料物理现代研究方法

目录
1绪论
1.1实验在科学发展中的重要作用
1.2实验方法的选择
参考文献
2核磁共振（NMR）谱学
2.1概述
2.2基本原理
2.3实验方法和新技术
2.4NMR在材料科学中的应用
参考文献
3正电子湮没技术（PAT）
3.1PAT的基础知识
3.2实验方法
3.3正电子湮没技术的应用
3.4正电子素
3.5结束语
参考文献
4原子探针——场离子显微镜（AP—FIM）
4.1场离子显微术原理
4.2原子探针（AP）
4.3AP-FIM的应用
参考文献
5卢瑟福背散射谱学
5.1实验方法及基本设备
5.2基本原理
5.3背散射谱的分析方法
5.4沟道效应
5.5应用举例
5.6总结
参考文献
6二次离子质谱学
6.1基本物理过程
6.2基本装置及实验方法
6.3SIMS分析实例
6.4SIMS方法的特点和局限性
参考文献
7俄歇电子能谱学
7.1基本原理
7.2基本装置与实验方法
7.3应用实例
参考文献
8.1基本原理
8X射线光电子能谱学
8.2基本装置
8.3XPS谱
8.4分析方法
8.5应用
8.6XPS与SIMS、AES的特点对比
参考文献
9中子活化分析
9.1概述
9.2中子活化分析的基本原理
9.3核蜕变和辐射的探测
9.4中子活化方法一般应用及实例
9.5活化技术在材料物理中的应用
参考文献
10.1扰动角关联技术
10扰动角关联
10.2扰动角关联在材料研究中的应用
10.3结束语
参考文献
11X射线吸收精细结构（XAFS）谱
11.1XAFS原理
11.2XAFS理论
11.3XAFS实验
11.4XAFS数据分析方法
11.5XAFS误差分析和国际规范
11.6XAFS应用及发展
参考文献
12中子散射技术
12.1概述
12.2中子的基本性质、中子的产生、中子的探测及其防护
12.3中子散射的基本原理与方法
12.4中子散射的基本实验设备简述
12.5中子散射的应用
参考文献
13核反应分析及质子荧光X射线分析
13.1核反应分析基本原理
13.2核反应分析技术
13.3核反应分析应用举例
13.4核反应分析的特点
13.5质子X射线荧光分析基本原理
13.6PIXE分析技术
13.7PIXE的应用
13.8PIXE分析的特点
参考文献
14分析电子显微镜技术
14.1概述
14.2分析电子显微镜基本原理
14.3X射线能谱分析（XEDS）
14.4电子能量损失谱分析的原理和应用
14.5微区电子衍射
参考文献
15激光和同步辐射技术
15.1激光测试技术
15.2同步辐射技术
参考文献
16穆斯堡尔谱学
16.1原理
16.2实验方法及数据处理
16.3超精细相互作用
16.4穆斯堡尔效应在材料物理中的应用
参考文献
17扫描隧道显微镜（STM）
17.1概述
17.2STM原理及基本理论
17.3STM系统简介
17.4实验方法
17.5STM的应用
参考文献
附录
附录二
附录三
编者通讯录