Practical patch clamp techniques

目录
第一章 膜片钳技术基本概念
第一节 膜片钳技术概述
一、 什么是膜片钳技术
二、 膜片钳技术的发展概况
三、 膜片钳技术的基本记录模式
四、 膜片钳技术的应用
第二节 膜片钳记录系统中的电极
一、 玻璃微电极
二、 Ag/AgCl电极
三、 Pt电极
四、 碳纤电极
五、 常见问题
第三节 膜片钳记录系统中的电压和电位
一、 膜电位
二、 平衡电位
三、 命令电压
四、 钳制电位
五、 电极电压降
六、 失调电位
七、 浴池电位
八、 常见问题
第四节 膜片钳记录系统中的电流和电导
一、 跨膜电流
二、 离子通道电导
三、 闸门电流
四、 正电流与负电流
五、 内向电流与外向电流
六、 去极化电流与超极化电流
七、 封接电流
八、 输入漏电流
九、 膜漏电流
第五节 膜片钳记录系统中的电阻
一、 膜电阻与膜输入阻抗
二、 电极电阻
三、 封接电阻
四、 串联电阻及接入电阻
五、 浴池电阻
六、 漏电阻
第六节 膜片钳记录系统中的电容
一、 膜电容
二、 分布电容
三、 电极电容
四、 快电容与慢电容
五、 时间常数
第七节 膜片钳记录系统中的漏减功能
一、 漏电流的概念与特点
二、 Clampex采样软件的P/N漏减功能
三、 Clampex采样软件的定标P/N漏减功能
四、 膜片钳放大器漏减功能
五、 Clampfit处理软件的漏减功能
六、 常见问题
第八节 膜片钳记录系统中的噪声
一、 噪声的测量指标
二、 噪声的基本类型
三、 膜片钳放大器噪声
四、 电极夹持器噪声
五、 电极噪声
六、 干扰的来源
七、 干扰的排除方法
八、 量化噪声
九、 混叠噪声
十、 常见问题
第九节 膜片钳记录系统中的信号滤波
一、 有关滤波的几个基本概念
二、 滤波器的基本类型
三、 数码滤波器
四、 采样频率与滤波频率的关系
五、 电干扰滤波器
六、 常见问题
第二章 膜片钳技术实验方法
第一节 全细胞记录技术
一、 离子通道简介
二、 全细胞记录要注意的问题
三、 全细胞记录与其他记录技术的比较
四、 电压门控性离子通道的动力学研究
五、 配体门控性离子通道的动力学研究
第二节 单通道记录技术及其数据分析
一、 单通道记录模式
二、 单通道数据的采集
三、 单通道数据分析中的几个基本概念
四、 单通道数据分析前的处理
五、 单通道事件的检测
六、 单通道电流幅度(电导)的分析
七、 单通道开关的动力学分析
八、 通道开放概率的计算
九、 膜片上通道数目的估算
十、 其他分析
第三节 穿孔膜片钳记录技术
一、 穿孔全细胞记录模式
二、 穿孔囊泡记录模式
三、 穿孔膜片钳记录模式的实验方法及注意事项
第四节 巨膜片记录技术
一、 巨膜片记录技术的概念
二、 肌细胞标本制备
三、 玻璃微电极制备
四、 封接的形成
五、 巨膜片电容的测定
六、 巨膜片记录技术的局限
第五节 其他膜片钳技术方法
一、 膜电容测定法
二、 松散封接记录技术
三、 脂质体记录技术
四、 细胞内膜离子通道记录技术
五、 细胞内灌注与抽吸技术
六、 压力钳技术
七、 在体膜片钳记录技术
第三章 脑片膜片钳记录技术
第一节 脑片膜片钳技术研究概况
一、 脑片标本介绍
二、 脑片膜片钳技术研究概况
第二节 脑片培养技术
一、 脑片培养技术简介
二、 脑片培养方法
三、 培养海马脑片的特点
四、 培养脑片的应用
第三节 海马的结构
一、 海马的概念
二、 海马结构的细胞构筑
三、 海马结构的主要传出纤维
四、 海马结构的主要传入纤维
五、 海马结构的内部纤维联系
第四节 脑片振动切片机
一、 脑片切片方法简介
二、 NVSLM1型振动切片机
第五节 海马脑片盲法膜片钳记录技术
一、 实验设备
二、 溶液配制
三、 海马脑片制备
四、 脑片孵育槽
五、 脑片记录浴槽
六、 玻璃微电极制备
七、 脑片盲法全细胞记录
第四章 膜片钳放大器及数模/模数转换器
第一节 Axoclamp 2B微电极放大器
一、 探头
二、 电极夹持器
三、 模型细胞
四、 前后面板
五、 浴池电位的去除
六、 记录模式
七、 接地和交流噪声
八、 电源
九、 常见问题
第二节 Axopatch 1D膜片钳放大器
一、 探头
二、 电极夹持器
三、 模型细胞
四、 前后面板
五、 噪声
六、 电源
七、 仪器的基本连线
八、 全细胞与单通道记录操作步骤
九、 常见问题
第三节 Axopatch 200B膜片钳放大器
一、 探头
二、 电极夹持器
三、 模型细胞
四、 前后面板
五、 接地和交流噪声
六、 电源
七、 全细胞与单通道记录操作步骤
八、 常见问题
第四节 Digidata 1200系列数模/模数转换器
一、 Digidata 1200系列转换器之间的差别
二、 Digidata 1200B前后面板
三、 安装
四、 pClamp采样软件对Digidata 1200系列转换器的确认
第五节 Digidata 132x系列数模/模数转换器
一、 Digidata 132x系列转换器之间的差别
二、 所需计算机配置
三、 前后面板
四、 安装
五、 pClamp采样软件对Digidata 1200系列转换器的确认
六、 常见问题
[附]什么是SCSI?
第五章 膜片钳技术数据采集和处理软件
第一节 pClamp数据采集和处理软件概述
一、 pClamp简介
二、 pClamp的构成
三、 pClamp的安装和运行
第二节 Clampex 8数据采集软件
一、 几个名词术语
二、 Clampex 8主要文件类型
三、 Clampex 8采样文件的命名
四、 Clampex 8的窗口
五、 Protocol编辑
六、 Configure设置
七、 Lab Bench设定
八、 Seal Test功能
九、 Membrane Test功能
十、 液接电位的计算与钳制电位的校正
十一、 常见问题
第三节 Clampfit 8数据处理分析软件
一、 Clampfit 8的窗口
二、 Clampfit 8文件类型
三、 数据的基本处理功能
四、 Stimulus Waveform调节
五、 快速作图
六、 文件的数学运算
七、 拟合
八、 统计分析
九、 常见问题
第四节 Clampex 9数据采集软件
一、 Clampex 9采样及分析窗口
二、 Protocol编辑
三、 Resistance Test功能
四、 LTP助手(LTP Assistant)
五、 Telegraphed Instrument设置
六、 常见问题
第五节 Clampfit 9数据处理分析软件
一、 Clampfit 9的窗口
二、 Clampfit 9文件的数学运算
三、 Clampfit 9的单通道数据分析功能
四、 Clampfit 9的自发突触活动分析
五、 Variance-mean分析(V-M分析)
六、 Clampfit 9的阈值检测功能
七、 常见问题
第六节 Origin数据分析与图形制作软件
一、 如何将pClamp采样数据输入到Origin软件进行处理
二、 如何赋予数据表中各组别的名称与特征
三、 如何对数据表中的数据进行转换
四、 作直条图时的几个问题
五、 如何对数据进行直线回归
六、 如何对坐标轴进行调整
七、 如何对坐标轴做断轴
八、 如何将几个不同的图显示在同一页面上并进行处理
九、 如何对所获数据进行曲线拟合
十、 如何制作Waveform图形
十一、 如何在Origin中剪切输入的采样图形
十二、 如何去除坏点
十三、 如何将制作好的图形输出
附录
附录一 膜片钳技术常用单位及换算
附录二 膜片钳实验溶液中常用离子的化合价与迁移率
附录三 膜片钳放大器的主要类型及生产厂家
附录四 膜片钳技术推荐参考书
图题与表题
一、 图题
二、 表题
索引
一、 中文索引
二、 英文索引
图题与表题
一、 图题
图1-1-1 膜片钳电极与细胞的接触
图1-1-2 单通道电流
图1-1-3 膜片钳技术四种基本记录模式形成图解
图1-2-1 玻璃微电极及膜片的几何形状
图1-2-2 用于灌注玻璃微电极尖端的抽吸器
图1-2-3 有芯玻璃毛胚(左)和星形管腔玻璃毛胚(右)
图1-2-4 美国Radnoti玻璃技术公司生产的多管玻璃微电极
图1-2-5 琼脂盐桥
图1-2-6 聚乙烯碳纤电极的结构
图1-2-7 用碳纤电极与全细胞记录方法对嗜铬细胞分泌活动进行检测
图1-3-1 不同刺激强度诱发的电紧张电位和动作电位
图1-3-2 不同记录模式下跨膜电位的变化
图1-3-3 尖端电位的测量
图1-3-4 浴池电阻的来源
图1-4-1 跨膜电流的方向
图1-4-2 封接电流
图1-5-1 串联电阻的补偿对电压门控性Na〓通道的影响
图1-6-1 细胞封接时Ω形膜片面积的计算
图1-6-2 膜电容充电(左图)与放电(右图)电路
图1-6-3 膜电容充放电时跨膜电流的变化
图1-6-4 膜片钳全细胞记录形成时膜对测试脉冲的反应电流
图1-6-5 膜片钳系统中的分布电容
图1-6-6 膜片钳放大器电容补偿电路
图1-6-7 细胞膜充放电时膜电位与跨膜电流的变化
图1-7-1 膜漏电流的组成
图1-7-2 膜稳态漏电流的特点
图1-7-3 P/N漏减脉冲的时程
图1-7-4 Clampex的P/N漏减功能设定
图1-7-5 漏减脉冲电流的采集
图1-7-6 漏减脉冲的极性设置
图1-7-7 漏减脉冲极性的设置导致内向性放电活动呈现出“外向性”
图1-7-8 漏减脉冲钳制电位的设置对刺激脉冲电流的影响
图1-7-9 定标漏减功能
图1-7-10 Clampfit中Analyze/Arithmetic对话框
图1-7-11 Clampfit中Analyze/Arithmetic对话框的Trace选项框
图1-7-12 Clampfit 9中Analyze/Subtract Control功能对话框
图1-7-13 膜片钳放大器Axopatch 1D的漏减功能
图1-7-14 测量漏电阻时游标位置的放置
图1-7-15 测量漏电阻的Analyze/Resistance功能
图1-7-16 Clampfit去除膜漏电流的Adjust/Leak Subtraction功能
图1-7-17 Clampfit的漏减功能
图1-8-1 四种主要的电极噪声
图1-8-2 交流噪声的产生
图1-8-3 短时脉冲干扰(Glitch)
图1-8-4 交流电磁场对信号电路的干扰
图1-8-5 公共地
图1-8-6 仪器内部信号地与机壳地相通导致接地环路形成
图1-8-7 量化噪声的产生
图1-8-8 混叠噪声
图1-8-9 BNC线接插头
图1-9-1 滤波的几个基本概念
图1-9-2 不同极滤波器的幅度衰减
图1-9-3 四种滤波器的理想频率特性
图1-9-4 Butterworth滤波器与Bessel滤波器的比较
图1-9-5 电干扰滤波器对正弦波的滤波作用
图2-1-1 离子通道的激活曲线
图2-1-2 Na〓离子通道I-V曲线的形状
图2-1-3 离子通道的整流现象
图2-1-4 离子通道的失活曲线
图2-1-5 离子通道失活后的恢复曲线
图2-1-6 延迟整流性K〓离子通道的尾电流
图2-1-7 几种常用脉冲电压的设置
图2-1-8 人神经元α4β2烟碱受体诱发乙酰胆碱(ACh)和烟碱(Nic)电流的量效关系
图2-1-9 P物质对大鼠副交感节神经元烟碱受体电流的抑制作用
图2-1-10 大鼠副交感节神经元烟碱受体的电压依赖性
图2-1-11 PAMP对蓝斑神经元烟碱受体电流抑制作用的使用依赖性
图2-2-1 单通道电流基线的确认
图2-2-2 单通道数据分析中的一些基本概念
图2-2-3 单通道事件的50％阈值检测法
图2-2-4 单通道电流幅度直方图
图2-2-5 用I-V曲线测单通道电导
图2-2-6 单通道开放时间分布直方图
图2-2-7 通道开放概率的计算
图2-2-8 膜片上离子通道数目的确定
图2-3-1 穿孔全细胞记录模式
图2-3-2 通过玻璃微电极内置的套管给细胞膜施加穿孔物质
图2-3-3 采用N-F法进行穿孔全细胞记录模式的形成过程
图2-3-4 穿孔囊泡记录模式
图2-4-1 采用巨膜片记录技术记录的豚鼠心肌细胞Na〓-Ca〓交换体电流
图2-5-1 大鼠腹腔肥大细胞分泌颗粒释放的测定
图2-5-2 单一分泌颗粒释放时膜电容的阶梯式变化
图2-5-3 脂质体囊泡的形态
图2-5-4 记录细胞内膜离子通道的套管微电极法
图2-5-5 通过细胞内抽吸技术测量细胞器内Ca〓离子浓度
图2-5-6 HSPC-1型压力钳放大器的连线
图2-5-7 压力对机械敏感性离子通道的激活
图2-5-8 压力对机械敏感性离子通道适应性的影响
图2-5-9 在体小鼠脑皮层神经元的全细胞记录过程
图3-1-1 采用IR-DIC技术在脑片神经元上对胞体与树突同时进行记录
图3-1-2 表面清洁法
图3-1-3 IR-DIC法
图3-1-4 盲法
图3-2-1 脑片培养方法
图3-2-2 旋管培养法脑片氧气的获得
图3-2-3 Millicell-CM型培养内皿
图3-2-4 半透膜培养法操作流程举例
图3-2-5 培养的新生大鼠海马脑片镜下形态
图3-3-1 海马在脑中的解剖位置
图3-3-2 海马结构及海马区域的构成
图3-3-3 海马CA1与CA3区的细胞构筑
图3-3-4 海马结构的主要传入和传出纤维
图3-3-5 海马结构内部四条纤维通路
图3-4-1 切片机刀片的切割与振动(旋转)方向
图3-4-2 英国Campden公司NVSLM1型振动切片机
图3-4-3 NVSLM1型振动切片机切片厚度调节刻度盘
图3-5-1 Gibb脑片孵育槽
图3-5-2 FST公司生产的脑片记录浴槽
图3-5-3 双孔脑片记录浴槽平面示意图
图3-5-4 纤维蛋白凝块固定法
图3-5-5 盖网固定法
图3-5-6 脑片垫固定法
图3-5-7 海马脑片CA1区锥体神经元自发突触活动
图3-5-8 烟碱对海马脑片CA1区锥体神经元自发突触活动的影响
图4-1-1 Axoclamp 2B配备的模型细胞
图4-1-2 Axoclamp 2B微电极放大器前面板
图4-1-3 Axoclamp 2B微电极放大器后面板
图4-1-4 BRIDGE模式桥平衡和电极电容中和过程
图4-1-5 DCC模式的电极电容中和方法
图4-1-6 cSEVC模式下串联电阻的补偿
图4-1-7 dSEVC模式的设定
图4-1-8 TEVC模式钳制增益GAIN对钳制速度的影响
图4-2-1 Axopatch 1D膜片钳放大器前面板
图4-2-2 Axopatch 1D膜片钳放大器后面板
图4-2-3 Axopatch 1D膜片钳放大器探头增频盒面板调节钮
图4-2-4 HL-U型电极夹持器结构
图4-2-5 电流钳模式下串联电阻的补偿
图4-2-6 校正电压(电流)的记录
图4-2-7 用FAST MAG．钮消除振荡
图4-2-8 Axopatch 1D膜片钳放大器电源保险丝的位置
图4-2-9 全细胞记录过程中测试脉冲的变化
图4-3-1 Axopatch 200B膜片钳放大器CV-203BU型探头
图4-3-2 Axopatch 200B膜片钳放大器前后面板
图4-3-3 全细胞膜电容的补偿
图4-3-4 不同命令电压下，％PREDICTION能达到的最大值曲线
图4-3-5 串联电阻补偿的简单方法
图4-3-6 串联电阻补偿的复杂方法
图4-3-7 全细胞与单通道记录操作过程
图4-4-1 Digidata 1200B前面板
图4-4-2 Digidata 1200B后面板
图4-4-3 计算机主板ISA插槽与SCSI板卡
图4-4-4 设定I/O地址的切换开关
图4-4-5 Clampex软件对Digidata 1200系列转换器的检测
图4-4-6 Clampex软件对Digidata 1200系列转换器的确认
图4-4-7 Digidata 1200系列转换器I/O地址发生冲突时，Clampex所显示的错误信息
图4-4-8 Digidata 1200系列转换器IRQ通道发生冲突时，Clampex所显示的错误信息
图4-4-9 Clampex对Digidata 1200不能确认时所显示的错误信息
图4-4-10 Window 95/98/Me/NT系统资源的检查
图4-4-11 Window 2000/XP系统资源的检查
图4-4-12 Window 2000对驱动程序DriverLINX的确认
图4-4-13 Window 95/98对系统资源的保留
图4-5-1 Digidata 1322A前面板
图4-5-2 Digidata 1322A后面板
图4-5-3 Windows XP发现新硬件窗口
图4-5-4 在Clampex中选择Digidata 132x转换器
图4-5-5 Clampex对Digidata 132x系列转换器的确认
图5-2-1 Waveform和Sweep的构成
图5-2-2 几个名词术语的解释
图5-2-3 Clampex 8采样文件的命名
图5-2-4 Clampex 8主窗口
图5-2-5 用于添加或删除图标按钮的Customize Toolbar对话框
图5-2-6 Clampex 8数据文件索引窗口
图5-2-7 Clampex 8数据文件索引的创建
图5-2-8 Protocol中的Mode/Rate设定
图5-2-9 Clampex 8采样模式图解
图5-2-10 Protocol中的Averaging功能
图5-2-11 Protocol中的Trigger设定
图5-2-12 Scope采样窗口中Pre-trigger length和Trigger Threshold的标记
图5-2-13 采样过程中Pre-trigger length和Trigger Threshold的调节
图5-2-14 Protocol中的Hysteresis设定
图5-2-15 Protocol中的Comments设定
图5-2-16 采样结束时的Comments提示框
图5-2-17 Protocol中的Waveform设定
图5-2-18 Waveform显示窗口
图5-2-19 Conditioning Train的构成
图5-2-20 User List功能
图5-2-21 顺序键的功能选项
图5-2-22 顺序键注释功能提示框
图5-2-23 顺序键文件创建窗口
图5-2-24 顺序键功能的Sequencing设定
图5-2-25 Protocol参数变动对顺序键的影响
图5-2-26 Overrides的设定窗口
图5-2-27 Seal Test Setup设定窗口
图5-2-28 Membrane Test Setup设定窗口
图5-2-29 Telegraphed Instrument的设置
图5-2-30 在Demo模式下不同输入导联产生的不同波形
图5-2-31 Lab Bench输入信号的设定
图5-2-32 Scale Factor Assistant窗口(1)
图5-2-33 Scale Factor Assistant窗口(2)
图5-2-34 Scale Factor Assistant：Generic device窗口
图5-2-35 滤波频率大于采样频率50％时的出错信息提示框
图5-2-36 Lab Bench输出信号的设定
图5-2-37 Clampex的Seal Test窗口
图5-2-38 Clampex的Membrane Test窗口
图5-2-39 Membrane Test对膜参数的测量
图5-2-40 膜对测试脉冲的反应电流
图5-2-41 液接电位计算功能的主窗口
图5-2-42 “添加离子浓度”对话框
图5-2-43 不同膜片钳记录模式下钳制电位的校正
图5-3-1 Clampfit 8 Results窗口
图5-3-2 Clampfit 8基线调节对话框
图5-3-3 Clampfit 8去除斜率的基线调节功能
图5-3-4 Clampfit 8去除固定数值的基线调节功能
图5-3-5 Clampfit 8手工调节基线功能
图5-3-6 Clampfit 8滤波功能对话框
图5-3-7 Notch滤波功能的设定
图5-3-8 标准I-V曲线制作对话框
图5-3-9 延迟整流性钾离子通道标准I-V曲线的制作
图5-3-10 Quick Trace vs．Trace Graph对话框
图5-3-11 采用Quick Trace vs．Trace Graph功能制作I-V曲线
图5-3-12 Fit对话框中的Function/Method设定
图5-3-13 用Boltzmann方程拟合离子通道激活曲线时各参数的含义
图5-3-14 “Boltzmann，standard”与“Boltzmann，shifted”方程
图5-3-15 Fitting Results窗口显示拟合后的统计指标
图5-4-1 pClamp 9游标新功能
图5-4-2 几种Waveform波形的参数设置
图5-4-3 Resistance Test的设定
图5-4-4 LTP Assistant对话框中的Sequencing设定
图5-4-5 LTP Assistant对话框中的Inputs/Outputs设定
图5-4-6 LTP实验电极与导联的设定
图5-4-7 LTP Assistant对话框中的Baseline设定
图5-4-8 Baseline protocol的Waveform设定
图5-4-9 LTP/LTD实验统计指标的测量
图5-4-10 LTP/LTD实验中统计测量指标的显示
图5-4-11 LTP Assistant中的Resistance Test设定
图5-4-12 LTP Assistant对话框中的Conditioning设定
图5-4-13 Conditioning protocol的Waveform设定
图5-4-14 LTP Assistant中4种Protocol的Waveform设置
图5-4-15 LTP实验Waveform设置实例
图5-5-1 用于单通道事件检测的Single-Channel Search设定框
图5-5-2 短时事件的排除
图5-5-3 Latency Mode的选择对关闭时间和开放概率计算的影响
图5-5-4 单通道事件检测中的Event Monitor窗
图5-5-5 单通道事件检测中的Event Viewer窗(右图为其Option设定框)
图5-5-6 单通道事件检测过程中Reject的功能
图5-5-7 单通道事件检测结果的排序
图5-5-8 Clampfit 9三种作图方法设定框
图5-5-9 单通道电流幅度直方图的制作过程
图5-5-10 单通道开放持续时间分布的直方图制作过程
图5-5-11 单通道事件检测的Event Statistic信息框
图5-5-12 Event Statistics信息框中通道开放概率的计算
图5-5-13 单通道分析的P(open)选项框
图5-5-14 开放概率随记录时间变化的直方图
图5-5-15 单通道开放概率(Po)的计算过程
图5-5-16 确定游标位置的两种方法
图5-5-17 Latency分析过程
图5-5-18 Burst Analysis设定框
图5-5-19 Burst Statistics信息框
图5-5-20 突触电流检测模板的创建
图5-5-21 用于突触电流检测的Template Search设定框
图5-5-22 Clampfit 9对突触电流的检测
图5-5-23 突触电流检测的Event Statistics信息框
图5-5-24 K-S统计变量D
图5-5-25 用K-S检验对突触电流幅度进行统计分析的过程
图5-5-26 V-M分析法原理
图5-5-27 用于V-M分析的数据文件
图5-5-28 V-M Analysis设定框(1)
图5-5-29 V-M Analysis设定框(2)
图5-5-30 V-M Analysis设定框(3)
图5-5-31 V-M曲线
图5-5-32 用于阈值检测的Threshold Search功能设定框
图5-5-33 阈值检测中用Re-arm功能对噪声进行去除
图5-5-34 阈值检测中的“Noise rejection”功能
图5-5-35 检测事件的手工调节
图5-6-1 pClamp-module数据框
图5-6-2 数据表中各组别名称与特征的设定
图5-6-3 Set Column Values对话框
图5-6-4 Plot Details对话框中Independent的功能
图5-6-5 对多组数据进行直线回归
图5-6-6 坐标轴上刻度标记的去除
图5-6-7 Beak断轴功能
图5-6-8 Layer Properties对话框
图5-6-9 不同图形被显示在同一页面上
图5-6-10 单一曲线的拟合
图5-6-11 复合曲线的拟合
图5-6-12 拟合方程参数名称的更改
图5-6-13 用Origin制作Waveform
图5-6-14 用Origin制作Waveform图形时数据的输入
图5-6-15 通过改变X轴的刻度范围剪切输入的采样图形
图5-6-16 坏点的去除
附图1 GeneClamp 500B放大器
附图2 MultiClamp 700B放大器
附图3 MultiClamp 700B计算机控制面板
附图4 德国HEKA公司EPC系列膜片钳放大器
附图5 PulseMaster采样软件及EPC 10放大器面板
附图6 一些膜片钳放大器的外观
二、 表题
表1-1-1 一些遗传性离子通道病
表1-3-1 不同温度下的2．303RT/F值
表1-3-2 哺乳动物神经元可通透离子的平衡电位(37℃)
表1-8-1 不同位数转换器的量化步阶
表1-9-1 滤波器的极与信号衰减斜率的关系
表2-1-1 激活曲线的数据测量和计算
表2-5-1 记录大肠杆菌机械敏感性MscL通道用脱水-再水化缓冲液与记录液成分
表3-2-1 脑片培养方法的比较
表3-5-1 人工脑脊液(ACSF)成分(mM)
表3-5-2 电极内液成分(mM)
表4-1-1 不同细胞膜输入电阻情况下探头增益的选择
表4-1-2 不同实验类型所推荐使用的HS-2A探头类型
表4-1-3 BRIDGE模式下Clampex中Lab Bench的设置
表4-1-4 DCC模式下Clampex中Lab Bench的设置
表4-1-5 cSEVC模式下Clampex中Lab Bench的设置
表4-1-6 dSEVC模式下Clampex中Lab Bench的设置
表4-1-7 TEVC模式下Clampex中Lab Bench的设置
表4-3-1 CV-203BU探头的最大输入噪声
表4-3-2 ％PREDICTION与％CORRECTION功能的比较
表4-4-1 Digidata板卡合理的I/O地址
表4-5-1 Digidata 132x系列转换器之间的差别
表5-2-1 不同膜片钳放大器输出命令的换算系数
表5-4-1 Baseline protocol与conditioning protocol的比较
表5-4-2 LTP Assistant提供的4种Protocol默认参数设定
表5-5-1 检测事件的状态
表5-5-2 Clampfit 9三种作图方法的比较
表5-5-3 K-S检验中相对累积频率的计算举例
附表1 膜片钳技术常用单位及换算
附表2 常用离子的化合价与迁移率
附表3 美国Axon公司主要膜片钳放大器的性能特点
附表4 德国HEKA公司EPC系列膜片钳放大器的性能特点
附表5 其他一些类型的膜片钳放大器