催化剂分析[电子资源.图书]

1 催化剂宏观物性测定
1.1 催化剂密度测定
1.1.1 催化剂密度
1.1.2 催化剂密度的测定方法
1.2 催化剂颗粒度测定
1.2.1 颗粒度和颗粒分布
1.2.2 颗粒度测定方法
1.3 催化剂比表面积测定
1.3.1 物理吸附与吸附等温线
1.3.2 吸附位能曲线及吸附热
1.3.3 朗格缪（Langmuir）吸附模型及其等温方程
1.3.4 BET吸附模型及其等温方程
1.3.5 催化剂比表面积的测定方法
1.4 催化剂孔结构的测定
1.4.1 液体的表面现象
1.4.2 弯曲表面上蒸气压-Kelven公式推导
1.4.3 催化剂孔结构测定方法
1.5 催化剂机械强度测定
1.5.1 固定床催化剂压碎强度测定方法
1.5.2 固定床催化剂磨损率的测定
1.5.3 流化床催化剂磨损性能的测定
2 多相催化剂酸碱性及金属分散度的测定
2.1 多相催化剂的酸碱性
2.1.1 固体酸和碱
2.1.2 固体酸性
2.1.3 石油化工催化剂酸性来源
2.2 固体酸性常规测定法
2.2.1 有机胺滴定法（非水溶液滴定法）
2.2.2 电化学滴定法
2.3 碱性气体吸附-脱附法
2.3.1 差热分析-热重分析法简介
2.3.2 氨吸附——差热法
2.3.3 气相色谱法
2.3.4 程序升温脱附法（TPD）
2.3.5 红外光谱测定酸性
2.3.6 其他方法
2.4 固体表面碱性的测定
2.4.1 碱强度测定方法
2.4.2 碱量测定方法
2.5 化学吸附法测定金属分散度（活性表面）
2.5.1 氢吸附法
2.5.2 氢氧滴定法
3 X-射线衍射分析
3.1 X-射线的性质及其产生
3.1.1 X-射线的性质
3.1.2 X-射线的产生
3.2 X-射线光谱的种类
3.2.1 连续光谱
3.2.2 特征光谱
3.3 X-射线的吸收及滤波器
3.4 晶体学基本知识
3.4.1 晶体
3.4.2 点阵与格子
3.4.3 晶胞、晶系与点阵形式
3.4.4 晶面、晶面指数、面间距
3.5 X-射线衍射的基本原理、衍射方法及衍射强度
3.5.1 X-射线衍射原理
3.5.2 X-射线衍射方法
3.5.3 X-射线衍射强度
3.6 X-射线衍射实验方法
3.6.1 粉末照相法
3.6.2 衍射仪法
3.6.3 ASTM D3906-80测定分子筛相对衍射强度试验标准方法
3.7 X-射线衍射物相分析
3.7.1 定性相分析
3.7.2 定量相分析
3.8 晶胞参数测定
3.8.1 测定晶胞参数时的主要注意事项
3.8.2 测角仪测定衍射角的误差与修正方法
3.8.3 分子筛晶胞常数及硅／铝比的测定
3.8.4 图解外推法精确测定晶胞常数
3.9 晶面指数的确定方法
3.9.1 已知点阵参数确定晶面指数
3.9.2 点阵参数未知时晶面指数的确定
3.9.3 样品所属晶系未知的情况下如何确定晶面指数
3.9.4 确定晶面指数时的注意事项
3.10 晶粒大小的测定
3.10.1 线宽法测定平均晶粒大小基本原理
3.10.2 谢乐公式中D，B，K的讨论
3.10.3 Kα双线及仪器几何因子校正
3.10.4 测定晶粒大小的步骤
3.11 Na-Y分子筛结晶度测定
3.11.1 ZBE49002-88 NaY分子筛结晶度测定法
3.11.2 稀释外推法测NaY分子筛结晶度
4 热分析
4.1 差热分析（DTA）
4.1.1 差热分析原理
4.1.2 差热分析实验装置
4.2 差热分析实验技术
4.2.1 DTA实验因素
4.2.2 DTA实验数据
4.2.3 DTA标定
4.3 热重分析（TG）
4.3.1 热重分析原理
4.3.2 热天平
4.3.3 实验技术与误差因素
4.3.4 热重实验标定
4.4 差示扫描量热法（DSC）
4.4.1 功率补偿的三种方式
4.4.2 差示扫描量热计及其工作原理
4.4.3 差示扫描量热曲线
4.4.4 DSC曲线的应用
4.5 热分析技术实际应用
4.5.1 差热分析实际应用
4.5.2 热重分析实际应用
5 多相催化剂表面分析技术
5.1 概述
5.1.1 固体表面及其特征
5.1.2 固体表面分析技术种类
5.2 X光光电子能谱（XPS）
5.2.1 引言
5.2.2 仪器结构
5.2.3 基本原理
5.2.4 电子逃逸深度
5.2.5 应用
5.3 紫外光电子能谱（UPS）
5.3.1 引言
5.3.2 光致发射的三步模型
5.3.3 应用
5.3.4 同步辐射在UPS中的应用
5.4 俄歇电子能谱（AES）
5.4.1 基本原理
5.4.2 俄歇实验方法与实验信号
5.4.3 定性定量
参考文献