编著者还有：陈颖、张素娟、高成、孙宇锋

作者：  付桂翠[等]编著

出版社：北京航空航天大学出版社,2010

简介：　　 本书是高等工科院校“质量与可靠性”专业本科生教材，主要围绕元 　　器件可靠性技术这一主题，针对元器件的固有可靠性和使用可靠性的保证 　　技术进行了分类介绍。在固有可靠性保证中主要介绍了元器件的制造工艺 　　、封装技术、失效机理、可靠性试验技术等。在使用可靠性保证中主要介 　　绍了元器件选用控制、使用设计方法、静电防护、可靠性筛选、破坏性物 　　理分析及失效分析技术等。本书在编写过程中强调了理论与工程实践相结 　　合，不仅具有系统的技术性，还具有较强的工程实用性，并对一些前沿的 　　元器件可靠性技术，如MEMS器件的可靠性现状及失效机理等进行了简要介 　　绍。 　　 本书也可供大专院校其他专业本科生、研究生使用及工程技术人员学 　　习和参考。