VLSI测试方法学和可测性设计

作者：  雷绍充，邵志标，梁峰著

出版社：电子工业出版社,2005

简介：　　 本书系统介绍超大规模集成电路(VLSI)的测试方法学和可测性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。 　　 本书主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方洁，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDO测试，随机和伪随机测试原理，各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，与M序列相关的其他测试生成方法，内建自测试原理，各种数据压缩结构和压缩关系，专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。 　　 本书既可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用，EDA和ATE专业人员的参考用书，也可作为高等院校高年级学生和研究生的专业课教材。