Realiability physics and engineering:time-to-failure modeling

作者：  (美)J. W. 麦克弗森著;秦飞[等]译

出版社：科学出版社,2013

简介：J.W.麦克弗森编著的《可靠性物理与工程--失效时间模型》以材料／器件退化为主线，系统总结了集成电路与电子器件、机械零部件等的典型失效模式，并着重阐述失效的物理机理，提出具有普适性的、简单实用的失效时间预测模型。《可靠性物理与工程--失效时间模型》可作为电子封装可靠性领域科技人员的培训教材和参考书，也可以作为电子器件、机械工程、生物医学、材料工程以及应用物理等专业的本科生和研究生教材。