C/C++程序缺陷与优化

作者：  于秀山　等编著

出版社：电子工业出版社 2014-4-1

简介：　　程序设计可谓是一个汗牛充栋的话题。与传统的C/C++程序设计方面的书籍不同，《C/C++程序缺陷与优化》从另外一个视角——程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。　　　《C/C++程序缺陷与优化》从作者所从事的软件测试项目中精选了与C/C++语言有关的程序缺陷，主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷，通过实例分析了缺陷产生的原因，并给出了具体的修改和优化方法。面对这些缺陷，程序员会有一种似曾相识、相见恨晚的感觉。通过这些缺陷，程序员能够跳出固有的程序设计思维定式，使其翻然醒悟，茅塞顿开。　　　《C/C++程序缺陷与优化》适合于有一定编程经验的软件开发人员和测试人员使用，也可作为高等院校计算机相关专业高级程序设计及软件测试课程教材。