数字电路实验

　　第一部分 基本数字集成电路实验
　　第1章 基本数字集成电路及其测量技术
　　 1.1 器件的电气参数测量
　　 1.1.1 TTL和CMOS数字集成电路使用规则
　　 1.1.2 集成门电路外特性的测试
　　 1.2 组合电路及显示电路
　　 1.2.1 门电路
　　 1.2.2 数码显示器件
　　 1.2.3 MSI组合逻辑电路
　　 1.2.4 用PLD器件设计组合电路
　　 1.3 时序电路
　　 1.3.1 触发器
　　 1.3.H MSI计数器
　　 1.3.3 MSI移位寄存器
　　 1.3.4 用PLD设计时序电路
　　 1.4 时钟产生电路和定时电路
　　 1.4.1 555定时器
　　 1.4.2 集成式施密特触发器
　　 1.4.3 多谐振荡器
　　 1.4.4 数字锁相环
　　 1.4.5 单稳态触发器
　　 1.5 模/数、数/模转换及应用
　　 1.5.1 集成模/数转换器
　　 1.5.2 集成数/模转换器
　　 1.6 半导体存储器
　　 1.6.1 存储器的分类
　　 1.6.2 半导体存储器的技术指标
　　 1.7 数字电路的测量信号
　　 1.7.1 二进制测量信号
　　 1.7.2 数字电路同步波形的测量
　　 1.7.3 黑盒子电路的测量
　　 1.8 实验基本技能
　　 1.8.1 实验手段
　　 1.8.2 实验中应用较广的几种数字逻辑电路
　　 1.8.3 实验中应注意的问题
　　 1.9 数字电路常见故障的分析与排除
　　 1.9.1 数字电路常见故障
　　 1.9.2 检查电路的一般方法
　　第2章 EWB软件的应用
　　 2.1 电路仿真工具EWB简介
　　 2.1.1 EWB的特点
　　 2.1.2 EWB的结构和界面
　　 2.2 数字电路仿真的基本步骤和注意事项
　　 2.2.1 电路输入
　　 2.2.2 激励源的加入
　　 2.2.3 显示、测试与输出单元的使用
　　 2.2.4 运行仿真
　　第3章 基本实验
　　 3.1 实验要求
　　 3.1.1 概述
　　
　　 3.1.2 实验报告的撰写
　　 3.2 实验板
　　 3.2.1 面包板与实验板
　　 3.2.2 电路安装
　　 3.2.3 布线原则
　　 3.2.4 故障排除
　　 实验0 数字电路常用仪表使用
　　 实验1 集成电路外特性测量(仿真)
　　 实验2 集成电路外特性测量
　　 实验3 组合逻辑电路实验
　　 实验4 比较器的研究
　　 实验5 集成计数器74LS90的测试及分频
　　 实验6 计数、译码、显示电路
　　 实验7 可预置的CC4526减计数器的应用
　　 实验8 集成门组成多谐振荡器
　　 实验9 集成定时器555的研究
　　 实验10 集成双单稳CD4528的应用
　　 实验11 锁相环倍频器
　　 实验12 抢答电路实验
　　 实验13 数字式脉冲占空系数测定仪
　　第二部分 可编程逻辑器件实验
　　第4章 可编程逻辑器件
　　 4.1 XC9500系列器件
　　 4.1.1 Xilinx系列器件简介
　　 4.1.H XC9500系列CPLD器件的主要特点
　　 4.1.3 XC9500系列器件的结构
　　第5章 Verilog HDL简介
　　 5.1 引言
　　 5.2 Verilog HDL的基本结构
　　 5.2.1 简单的Verilog HDL例子
　　 5.2.2 Verilog HDL模块的结构
　　 5.2.3 逻辑功能定义
　　 5.3 数据类型及常量、变量
　　 5.3.1 常量
　　 5.3.2 变量
　　 5.4 运算符及表达式
　　 5.4.1 算术运算符(Arithmetic opcrators)
　　 5.4.2 逻辑运算符(Logical operatprs)
　　 5.4.3 位运算符(Bitwise operatprs)
　　 5.4.4 关系运算符(Relational operatprs)
　　 5.4.5 等式运算符(Equality operatprs)
　　 5.4.6 缩减运算符(Recluction operatprs)
　　 5.4.7 移位运算符(Shift o……