Building economics

作者：  Ivor H.Seeley著;郝建新等译

出版社：南开大学出版社,2006

简介：Digital Systems Testing and Testable Design一书，是全美大学生和研究生优秀教材，比较系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片（处理器、数字信号处理器和自动机等）测试理论和方法等。该书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及其范围等；第9章-第14章是第二部分，主要介绍数字系统的可测性设计理论和方法、建内